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  • Nanosystem NV-1000白光干涉儀

    Nanosystem NV-1000白光干涉儀是利用白光干涉特性來進行表面形貌的測量,它結合了典型的WSI非常高的垂直分辨率和一個非常大的面積高達21.7毫米x16.3毫米。這使得高精度和大面積快速測量成為可能,而無需縫合。

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    更新日期:2021-04-17
  • NanoSystem CS-2000氣缸內壁表面形貌儀

    NanoSystem CS-2000氣缸內壁表面形貌儀結合了無損分析性能, 操作便利。除了評估ISO粗糙度值, 采用白光干涉測量技術之外, 這款緊湊型系統(tǒng)還可以測量納米尺度粗糙度, 亞納米分辨率和生產水平能力的三維表面形貌。

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    更新日期:2021-10-10
  • NanoSystem NV-1800 3D輪廓儀

    NanoSystem NV-1800 3D輪廓儀屬于緊湊式機型,但仍具有很高的測試性能。簡單的操作性和良好的重復性使得它在研發(fā)和分析不良產品方面發(fā)揮著重要作用。

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    更新日期:2022-01-04
  • FigSpec FS-2X系列高光譜相機

    FigSpec FS-2X系列高光譜相機包含可見光(400-700nm)、近紅外(400-1000nm)和短波近紅外(900-1700nm)3種光譜區(qū)域,廣泛應用于印刷,紡織等各種工業(yè)制品的表面顏色紋理檢測(顏色測量單像素重復性可達dE*ab 0.1),成分識別,物質鑒別,機器視覺,農產品品質等領域。

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    更新日期:2024-06-09
  • FigSpec FS-1X系列高光譜相機

    FigSpec FS-1X系列高光譜相機包含可見光(400-700nm)、近紅外(400-1000nm)和短波近紅外(900-1700nm)3種光譜區(qū)域,廣泛應用于印刷,紡織等各種工業(yè)制品的表面顏色紋理檢測(顏色測量單像素重復性可達dE*ab0.1),成分識別,物質鑒別,機器視覺,農產品品質等領域。

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    更新日期:2024-06-09
  • NEOSCAN N70 microCT顯微CT

    NEOSCAN N70 microCT顯微CT采用錐形X 線束(Cone Beam), 獲得真正各向同性的容積圖像,并重構3D圖像,提高空間分辨率和X射線利用率。科研級計算機斷層掃描系統(tǒng)

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    更新日期:2023-05-07
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